為預防工業設備在高速運作時，導致快閃記憶體在同一儲存區塊執行大量讀取任務導致讀取干擾(Read Disturbance)、區塊損壞和錯誤資料的產生，威剛整合Early Remove、Early Retire、Read Count三項技術，為客戶提供A+ Retention獨家解決方案，配合ECC糾錯功能，提供更高的數據完整性和延長工業設備壽命。

A⁺ Retention - 監控讀取任務 資料萬無一失

Early Remove

當控制器讀取到Flash塊中的資料錯誤率達到70%以上時，Early Remove技術會將資料移動到新的區塊，原區塊則被清除作為備用，進而延長使用壽命。

Early Retire

當控制器讀取到Flash塊中的資料錯誤率達到90%以上時，Early Retire技術會將資料移動到新的區塊後使原始塊無效，以避免區塊損壞造成資料遺失。

Read Count

讀取計數可預防讀取干擾，若某個區塊中存儲的資料被過度讀取多次，存儲在周圍區塊中的資料將會受到影響（潛在變化0->1或1->0），從而觸發控制器讀取計數機制。當讀取計超過閾值時，受影響的區塊將被複製並移動到新區塊，原區塊則被清除作為備用，以延長預期壽命。