A⁺ Retention

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為預防工業設備在高速運作時,導致快閃記憶體在同一儲存區塊執行大量讀取任務導致讀取干擾(Read Disturbance)、區塊損壞和錯誤資料的產生,威剛整合Early Remove、Early Retire、Read Count三項技術,為客戶提供A+ Retention獨家解決方案,配合ECC糾錯功能,提供更高的數據完整性和延長工業設備壽命。

 

A Retention - 監控讀取任務 資料萬無一失

Early Remove

當控制器讀取到Flash塊中的資料錯誤率達到70%以上時,Early Remove技術會將資料移動到新的區塊,原區塊則被清除作為備用,進而延長使用壽命。

Early Retire

當控制器讀取到Flash塊中的資料錯誤率達到90%以上時,Early Retire技術會將資料移動到新的區塊後使原始塊無效,以避免區塊損壞造成資料遺失。

Read Count

讀取計數可預防讀取干擾,若某個區塊中存儲的資料被過度讀取多次,存儲在周圍區塊中的資料將會受到影響(潛在變化0->1或1->0),從而觸發控制器讀取計數機制。當讀取計超過閾值時,受影響的區塊將被複製並移動到新區塊,原區塊則被清除作為備用,以延長預期壽命。

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