
SAMSUNG informed its keynote audience of important product updates to previously-announced mobile storage and high-performance SSD at Flash Memory Summit 2022. The industry’s first UFS 4.0 mobile storage, developed by SAMSUNG in May, is scheduled to enter mass production in August. The new UFS 4.0 will be a critical component in flagship smartphones that require large amounts of data processing for features like high-resolution images and graphics-heavy mobile games, and will later be used in mobility, VR and AR.
Japan's Ministry of Economy, Trade and Industry (METI) has lately announced plans to subsidize Western Digital (WD) and KIOXIA’s NAND flash manufacturing facility for the volume production of the 162-layer 3D NAND flash in Yokkaichi, Mie Prefecture.


SK Hynix aims to select a U.S. site for its advanced chip packaging plant and break ground there around 1Q2023, two people familiar with the matter said, helping the United States to compete as China pours money into chip packaging. The plant, whose estimated cost would be "several billions," would ramp up to mass production by 2025-2026 and employ about 1,000 workers, one of the sources said, declining to be named because details about the plant have not been made public.
Micron announced its plans to invest $40 billion through the end of 2030 to build leading-edge memory manufacturing in multiple phases in the U.S. With the anticipated grants and credits made possible by the CHIPS and Science Act, this investment will enable the world’s most advanced memory manufacturing in America. Micron expects to begin production between 2026 and 2030, ramping overall supply in line with industry demand trends.

| Type | Supply | Price | |
|---|---|---|---|
|
DRAM Module ![]() |
DDR3 | ● | ▼ |
| DDR4 | ● | ▼ | |
| DDR5 | ● | ▼ | |
|
Flash Storage ![]() |
SLC | ● | ▂ |
| MLC | ● | ▂ | |
| 3D TLC (BiCS3) | ● | ▂ | |
| 3D TLC (BiCS4) | ● | ▼ | |
| 3D TLC (BiCS5) | ● | ▼ |
● Smooth supply ● Tight supply ▂ Flat ▲ Upward trend ▼ Downward trend

SSD SMART 是什麼?本文解析 SATA 與 NVMe SMART 差異,說明 Power On Hours、Temperature、Percentage Used、Available Spare 等常見健康參數,協助 Edge Storage 與工業設備掌握 SSD 健康狀態。

完整解析車用 SSD :AEC-Q100 IC 溫度等級(Grade 0~3)、IATF 16949、ISO/SAE 21434 資安與 PLP、pSLC 等子系統規格,並比較 eMMC/UFS/SSD 差異。威剛工業級提供車載、鐵道 NVR 與邊緣運算的寬溫儲存方案與選型支援。

NVMe SSDとは何か、NVMeとSATA SSDとの違い、そしてNVMeストレージが自動化、産業用システム、および高頻度データロギングに最適な理由について解説します。

ECC DRAMとは何か、エラー訂正の仕組み、そしてデータの整合性、システムの安定性、ネットワークセキュリティ、ミッションクリティカルなコンピューティングにおいて重要となる理由について解説します。

NVRストレージを選定する際の主な検討事項:HDD、SSD、監視用SSD、およびAI NVRのストレージ要件を比較し、安定した高性能監視システムを構築しましょう。

温度はすべてのSSDを左右する隠れた制限要因であり、SSDの温度範囲は性能仕様であると同時に信頼性仕様でもあります。持続的な負荷がかかると、NVMeファームウェアは複合温度を監視し、軽度または大幅なサーマルスロットリングを開始します。その結果、書き込みスループットが低下し、遅延は急上昇します。また、熱はNAND内部の電荷漏れを加速させ、保持期間の劣化を早めます。この影響は、プログラム/消去サイクルによってセルの劣化が進むほど悪化します。このため、耐久性の消耗が早まり、後にドライブが無通電状態で放置された際のデータ保持トラブルのリスクも高まります。